Scanning Capacitance Microscopy of TGS-TGS+Cr ferroelectric crystals

Please use this identifier to cite or link to this item: https://rep.vsu.by/handle/123456789/20822

Title:	Scanning Capacitance Microscopy of TGS-TGS+Cr ferroelectric crystals
Keywords:	method of Scanning Capacitance Microscopy (SCM) permittivity triglycine sulfate диэлектрическая проницаемость доменные структуры кристаллография сегнетоэлектрики сегнетоэлектрические кристаллы триглицинсульфат
Issue Date:	2020
Publisher:	Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова
Citation:	Наука – образованию, производству, экономике : материалы 72-й Регион. науч.-практ. конф. преподавателей, науч. сотрудников и аспирантов, Витебск, 20 февраля 2020 г.. – Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова, 2020. – С. 40-42. – Библиогр.: с. 42 (1 назв.).
Abstract:	The purpose of this work is to study of the capabilities SCM as a method of local nanodiagnostics oheterogeneous ferroelectric surfaces. The question of the applicability of the SCM method for the composite mapping of ferroelectric crystals with the growth periodic impurity structure is considered. = Рассмотрен вопрос о применимости метода СКМ для составного картирования сегнетоэлектрических кристаллов с периодической ростовой примесной структурой.
URI:	https://rep.vsu.by/handle/123456789/20822
Appears in Collections:	Наука – образованию, производству, экономике : материалы 72-й Региональной научно-практической конференции преподавателей, научных сотрудников и аспирантов, Витебск, 20 февраля 2020 г. – Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова, 2020. – 522 с.