Scanning Capacitance Microscopy of TGS-TGS+Cr ferroelectric crystals

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.vsu.by/handle/123456789/20822

Заглавие:	Scanning Capacitance Microscopy of TGS-TGS+Cr ferroelectric crystals
Ключевые слова:	method of Scanning Capacitance Microscopy (SCM) permittivity triglycine sulfate диэлектрическая проницаемость доменные структуры кристаллография сегнетоэлектрики сегнетоэлектрические кристаллы триглицинсульфат
Дата публикации:	2020
Издательство:	Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова
Библиографическое описание:	Наука – образованию, производству, экономике : материалы 72-й Регион. науч.-практ. конф. преподавателей, науч. сотрудников и аспирантов, Витебск, 20 февраля 2020 г.. – Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова, 2020. – С. 40-42. – Библиогр.: с. 42 (1 назв.).
Аннотация:	The purpose of this work is to study of the capabilities SCM as a method of local nanodiagnostics oheterogeneous ferroelectric surfaces. The question of the applicability of the SCM method for the composite mapping of ferroelectric crystals with the growth periodic impurity structure is considered. = Рассмотрен вопрос о применимости метода СКМ для составного картирования сегнетоэлектрических кристаллов с периодической ростовой примесной структурой.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса):	https://rep.vsu.by/handle/123456789/20822
Располагается в коллекциях:	Наука – образованию, производству, экономике : материалы 72-й Региональной научно-практической конференции преподавателей, научных сотрудников и аспирантов, Витебск, 20 февраля 2020 г. – Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова, 2020. – 522 с.