Spectral ellipsometry of nickel oxide films

Rui, Z.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.vsu.by/handle/123456789/35828

Заглавие:	Spectral ellipsometry of nickel oxide films
Авторы:	Rui, Z.
Ключевые слова:	spectral ellipsometry оксид никеля спектральная эллипсометрия optical constants thin films nickel oxide
Дата публикации:	2022
Издательство:	Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова
Библиографическое описание:	Rui, Z. Spectral ellipsometry of nickel oxide films / Z. Rui // The Youth of the 21st Century: Education, Science, Innovations : Proceedings of IX International Conference for Students, Postgraduates and Young Scientists, Vitebsk, December 9, 2022. – Vitebsk : VSU named after P. M. Masherov, 2022. – P. 27–29. – Bibliogr.: p. 29 (3 nam.).
Аннотация:	Nickel oxide (NiO) is used to create photovoltaic solar cells, which has unique optical and electrical properties, as well as good chemical stability. It is necessary to develop technological regimes for obtaining thin NiO films with optimal characteristics for their use in photovoltaics.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса):	https://rep.vsu.by/handle/123456789/35828
ISBN:	978-985-517-981-9
Располагается в коллекциях:	The Youth of the 21st Century: Education, Science, Innovations : Proceedings of IX International Conference for Students, Postgraduates and Young Scientists, Vitebsk, December 9, 2022. – Vitebsk : VSU named after P. M. Masherov, 2022. – 402 р.