Обращаем ваше внимание, что в настоящий момент на платформе проводятся технические работы по обновлению репозитория.

Scanning Capacitance Microscopy of TGS-TGS+Cr ferroelectric crystals

Thumbnail Image

Files

40-42.pdf (736.42 KB)

Date

2020

Authors

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова

DOI

Abstract

The purpose of this work is to study of the capabilities SCM as a method of local nanodiagnostics oheterogeneous ferroelectric surfaces. The question of the applicability of the SCM method for the composite mapping of ferroelectric crystals with the growth periodic impurity structure is considered. = Рассмотрен вопрос о применимости метода СКМ для составного картирования сегнетоэлектрических кристаллов с периодической ростовой примесной структурой.

Description

Keywords

method of Scanning Capacitance Microscopy (SCM) , permittivity , triglycine sulfate , диэлектрическая проницаемость , доменные структуры , кристаллография , сегнетоэлектрики , сегнетоэлектрические кристаллы , триглицинсульфат

Citation

Наука – образованию, производству, экономике : материалы 72-й Регион. науч.-практ. конф. преподавателей, науч. сотрудников и аспирантов, Витебск, 20 февраля 2020 г.. – Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова, 2020. – С. 40-42. – Библиогр.: с. 42 (1 назв.).

URI

https://rep.vsu.by/handle/123456789/20822

Collections

Наука – образованию, производству, экономике : материалы 72-й Региональной научно-практической конференции преподавателей, научных сотрудников и аспирантов, Витебск, 20 февраля 2020 г. – Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова, 2020. – 522 с.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By