Методы зондовой микроскопии в исследовании доменной структуры слоистых кристаллов ТГС-ТГС:CR

Толстихина, А. Л.; Шут, В. Н.; Мозжаров, С. Е.; Кашевич, И. Ф.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.vsu.by/handle/123456789/9755

Заглавие:	Методы зондовой микроскопии в исследовании доменной структуры слоистых кристаллов ТГС-ТГС:CR
Авторы:	Толстихина, А. Л. Шут, В. Н. Мозжаров, С. Е. Кашевич, И. Ф.
Ключевые слова:	доменные структуры зондовая микроскопия сегнетоэлектрические материалы слоистые кристаллы физика
Дата публикации:	2013
Издательство:	Витебск : ВГУ имени П.М.Машерова
Библиографическое описание:	Наука – образованию, производству, экономике : материалы XVIII (65) Региональной науч.-практ. конф. преподавателей, научных сотрудников и аспирантов, Витебск, 13-14 марта, 2013 г.: в 2 т. – Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова, 2013. – Т. 1. – С. 39-41.-
Аннотация:	С целью изучения возможности формирования ПДС в сегнетоэлектриках, выращиваемых из растворов, авторами статьи проведена работа, связанная с получением и исследованием кристаллов триглицинсульфата (ТГС) со специально создаваемыми периодическими примесными слоями.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса):	https://rep.vsu.by/handle/123456789/9755
ISBN:	978-985-517-379-4 978-985-517-380-0 (т. 1)
Располагается в коллекциях:	Наука – образованию, производству, экономике : материалы ХVIII (65) Региональной научно-практической конференции преподавателей, научных сотрудников и аспирантов, Витебск, 13-14 марта 2013 г. : в 2 т. – Витебск : ВГУ имени П. М. Машерова, 2013. – Т. 1. – 590 с.