Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.vsu.by/handle/123456789/43437

Заглавие:	Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии
Авторы:	Гайнутдинов, Р. В. Толстихина, А. Л. Лашкова, А. К. Белугина, Н. В. Шут, В. Н. Мозжаров, С. Е. Кашевич, И. Ф.
Дата публикации:	2019
Издательство:	Витебский государственный технологический университет
Библиографическое описание:	Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии / Р. В. Гайнутдинов [и др.], И. Ф. Кашевич // Перспективные материалы и технологии : материалы междунар. симпозиума, Брест, 27-31 мая 2019 г. – Витебск : ВГТУ, 2019. – С. 576–578.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса):	https://rep.vsu.by/handle/123456789/43437
ISBN:	978-985-481-608-1
Располагается в коллекциях:	Научные публикации (2019)