Формирование регулярной доменной структуры в кристаллах TGS–ТGS + CR с профильным распределением примеси

Abstract

Проведено комплексное исследование кристаллов TGS – TGS + Cr с профильным распределением примеси ионов хрома Cr3+ на макро- (измерение диэлектрических свойств, метод нематических жидких кристаллов) и микроуровне (доменная структура по данным атомно-силовой микроскопии). Установлено, что примесные периодические слои формируются не по всему объему кристалла, а только в отдельных пирамидах роста на участках, вектор поляризации в которых имеет ненулевую составляющую на направлении нормали к граням роста. Методом микроскопии пьезоэлектрического отклика исследована конфигурация доменов на границе ростовых слоев с различным примесным составом. Статическая униполярность слоев с введением хрома и без примеси примерно одинакова, в то время как плотность доменных границ в областях с примесью примерно в 7 раз выше, чем в областях без примеси.