Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии

Гайнутдинов, Р. В.; Толстихина, А. Л.; Лашкова, А. К.; Белугина, Н. В.; Шут, В. Н.; Мозжаров, С. Е.; Кашевич, И. Ф.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://rep.vsu.by/handle/123456789/43437

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Гайнутдинов, Р. В.	-
dc.contributor.author	Толстихина, А. Л.	-
dc.contributor.author	Лашкова, А. К.	-
dc.contributor.author	Белугина, Н. В.	-
dc.contributor.author	Шут, В. Н.	-
dc.contributor.author	Мозжаров, С. Е.	-
dc.contributor.author	Кашевич, И. Ф.	-
dc.date.accessioned	2024-05-30T12:47:43Z	-
dc.date.available	2024-05-30T12:47:43Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии / Р. В. Гайнутдинов [и др.], И. Ф. Кашевич // Перспективные материалы и технологии : материалы междунар. симпозиума, Брест, 27-31 мая 2019 г. – Витебск : ВГТУ, 2019. – С. 576–578.	ru_RU
dc.identifier.isbn	978-985-481-608-1	-
dc.identifier.uri	https://rep.vsu.by/handle/123456789/43437	-
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Витебский государственный технологический университет	ru_RU
dc.title	Исследование примесных фаз в неоднородных сегнетоэлектрических кристаллах TGS методом сканирующей емкостной силовой микроскопии	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU
Appears in Collections:	Научные публикации (2019)